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喜讯丨高精度晶圆级光学缺陷检测设备成功出机

时间:2023-08-24

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浏览数:482


近日,聚时科技成功出机高精度晶圆级光学缺陷检测设备,开始部署交付国内某新锐集成电路企业。
聚时科技已建立相对完整的产品矩阵,其中MatrixSemi系列高精度晶圆级光学缺陷检测量测产品,覆盖应用于前道制程、先进封装、第三代半导体化合物衬底检测等众多工艺场景。凭借创新的大规模深度学习引擎、高精度微纳光学系统、高精密传输系统和高速运动台系统、图形图像处理专用系统,打造了系列化半导体高精度检测量测设备。

聚时科技将继续坚持技术创新,持续加大研发投入、立足客户实际需求,为客户提供更好的硬科技产品与高质量服务。

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