硅片检测
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MatrixSolar·终检EL检测设备

1. 整体化产线解决方案涵盖串检、层前EL&外观、层后外观、接线盒、终检EL、终检EL、终检外观6大主要检测点,可实现整线智能化升级。

2. 各检测点均可实现高度智能化,逐步从省人到无人化,大量节省人力成本。

3. 多线合一方案节省人力>90%,无人方案节省人力100%。

4. 整线检测数据互通,数据图像可视化展示。

5. 产线、产品、缺陷等多维度的数据分析及统计,应对各部门不同维度的数据需求。

产品特点
01
检测效率大幅提升
02
设备成本大幅降低
03
微弱缺陷精准检出
产品规格
物料能力
支持产品 多晶硅&单晶硅
全片、半片、叠瓦、叠焊、拼片
检测能力*
像素精度 0.25mm / 0.1mm
成像时间 4~6s
分类准确性 组件:漏检率小于0.1%,误检率小于5%
电池串:漏检率小于0.05%,误检率小于1%
检测功能*
EL检测 死片、破片、混档、隐裂、炸点、虚焊、异物、断栅
黑心黑斑缺边、划痕等
VI检测 条码、破片、异物、色差、焊带偏移、间距、错位
印痕、脏污、划伤、气泡、白斑等
系统能力
自动检测 AI全自动在线精准检测,无需人工复判
数据统计 直观便捷提供可视量化数据,助力完善工艺

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