硅片检测
Scroll

您当前所在的位置: 首页· 硅片检测· 聚能2200 串EL外观检测·

MatrixSolar·层前EL外观检测设备

支持串背面外观检测。采用独特的机构设计,在电池串翻转过程中(区域Ⅱ)“飞拍”,解决传统双面外观成像的遮挡问题,及静止拍照耗时过长的问题。

EL和外观图像同屏显示。EL、正面外观、背面外观(可选)图像在同一个屏幕展示,电池片位置一一对应,便于快速协同定位不良,如“虚焊”、“少焊带”等缺陷。

产品特点
01
支持串背面外观检测
02
解决传统双面外观成像的遮挡问题
03
EL和外观图像同屏显示,正面外观、背面外观、EL同屏显示,可快速协同定位不良
产品规格
物料能力
支持产品 多晶硅&单晶硅
全片、半片、叠瓦、叠焊、拼片
检测能力*
像素精度 0.25mm / 0.1mm
成像时间 4~6s
分类准确性 组件:漏检率小于0.1%,误检率小于5%
电池串:漏检率小于0.05%,误检率小于1%
检测功能*
EL检测 死片、破片、混档、隐裂、炸点、虚焊、异 物
缺边、黑心黑斑、断栅、划痕等
VI检测 条码、破片、异物、色差、焊带偏移、间距、
错位、印痕、脏污、划伤、气泡、白斑等
系统能力
自动检测 AI全自动在线精准检测,无需人工复判
数据统计 直观便捷提供可视量化数据,助力完善工艺

我们期待您的联系

我们为您提供更加合适的解决方案供您参考,您可以通过电话、聊天、电子邮件等方式与我们联系。

发送邮件
聚时科技上海总部

聚时科技上海总部

地址:上海闵行商务区申滨南路1126号

              龙湖虹桥天街C栋8层、10层

电话:138 1784 0745

邮箱:marketing@matrixtime.com

长沙聚时

长沙聚时

地址:湖南省长沙市开福区北辰三角洲

电话:138 1784 0745

邮箱:sales@matrixtime.com

深圳聚时

深圳聚时

地址:深圳市龙岗区坂田街道坂雪岗大道4033号江南时代大厦5层

电话:138 1784 0745

邮箱:sales@matrixtime.com

Copyright © 聚时科技(上海)有限公司 备案号:沪ICP备19035611号-1技术支持:上海网站建设   网站地图